Contactloos meten met nanometer precisie

Voor de Corus Jong Talent-prijs moet je iets bijzonders presteren. Dat deed Lennino Cacace met zijn afstudeerproject aan de TU Eindhoven en daarom kreeg hij op 23 ovember 2006 die prijs door Corus R&D-directeur prof. dr. R. Boom tijdens een feestelijke bijeenkomst in Haarlem uitgereikt. De jury van de Koninklijke Hollandsche Maatschappij der Wetenschappen was enthousiast over zijn sensor voor het contactloos meten van vrije-vorm-oppervlakken met een resolutie van één nanometer, en dat binnen een aanzienlijk meetgebied van 5 mm.De sensor zal deel gaan uitmaken van de revolutionaire NANOMEFOS-precisiemachine voor het meten van vrije-vorm-optiek.

Download Mikroniek 1 2007

Back to overview

We use cookies to improve your experience on our website

References

Order of frictions and stiffnesses…

For lumped systems consisting of different frictions and stiffnesses, there has been confusion in literature about hysteresis curves and virtual play for many decades.

Make it clean

In mid-April, the second edition of the Manufacturing Technology Conference and the fifth edition of the Clean Event were held together, for the first time, at the Koningshof in Veldhoven (NL).

Bringing particles to light

Particle contamination monitoring and cleanliness control are fundamental to micromanufacturing processes across diverse industries to achieve cost-effective production of high-quality and reliable microscale devices and components.