Een fase gestapte interferometer met verscheidene optische kanalen voor metingen van vervormingen

Optics
Fotonica nr. 6, 1994 by A.J.P. van Haasteren, A.L. Weijers, H.J. Frankena 27 April 2006

Fase gestapte interferometrie is een techniek waarmee verplaatsingen of vervormingen van een voorwerp gemeten kunnen worden. Door het object monochromatisch te belichten en het gereflecteerde licht te laten interfereren met een coherente hulpbundel (de referentiebundel) wordt een interferentie patroon gegenereerd. De huidige technieken zijn echter gevoelig voor externe verstoringen zoals luchtstromingen, temperatuurveranderingen en trillingen. Vanwege deze beperkingen is een interferometer ontwikkeld die bestaat uit verscheidene optische kanalen waardoor de inteferogrammen tegelijkertijd kunnen worden opgenomen.

Download Fotonica nr. 6, 1994
Back to overview

References

Techcafé | Einstein Telescope (in…

Het Techcafé is de centrale ontmoetingsplaats voor professionals in de hightech- en maakindustrie.

Read more
Order of frictions and stiffnesses…

For lumped systems consisting of different frictions and stiffnesses, there has been confusion in literature about hysteresis curves and virtual play for many decades.

Read more
Make it clean

In mid-April, the second edition of the Manufacturing Technology Conference and the fifth edition of the Clean Event were held together, for the first time, at the Koningshof in Veldhoven (NL).

Read more