Geef uw microscoop een hand

Met licht- en elektronenmicroscopische technieken kunnen heden ten dage structuren worden afgebeeld met een oplossend vermogen van kleiner dan 0,2 micrometer (lichtmicroscopen)resepctievelijk 1 nanometer (scanning microscopen). Deze beeldinformatie kan worden aangevuld met informatie over de elementaire samenstelling van het preparaat of de structuur door gebruik te maken van signalen (x-ray of elektronen) die bij de wisselwerking van elektronen met het preparaat ontstaan. Het oplossend vermogen van deze analytische methodes is ongeveer een micrometer. Voor verbetering van het oplossend vermogen wil een onderzoeker vaak het preparaat beter kunnen voorbereiden en in situ (dus in een microscoop) manipuleren op submicrometerschaal.

Download Mikroniek 2008-4

Back to overview

We use cookies to improve your experience on our website

References

Order of frictions and stiffnesses…

For lumped systems consisting of different frictions and stiffnesses, there has been confusion in literature about hysteresis curves and virtual play for many decades.

Make it clean

In mid-April, the second edition of the Manufacturing Technology Conference and the fifth edition of the Clean Event were held together, for the first time, at the Koningshof in Veldhoven (NL).

Bringing particles to light

Particle contamination monitoring and cleanliness control are fundamental to micromanufacturing processes across diverse industries to achieve cost-effective production of high-quality and reliable microscale devices and components.